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TI德州儀器公司完整型號：SN74BCT8240ADWR

制造廠家名稱：Texas Instruments

描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

系列：74BCT

邏輯類型：掃描測試設(shè)備，帶反相緩沖器

電源電壓：4.5 V ~ 5.5 V

位數(shù)：8

工作溫度：0°C ~ 70°C

安裝類型：表面貼裝

封裝/外殼：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）

供應(yīng)商器件封裝：24-SOIC